Catalogue des ouvrages Université de Laghouat
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Auteur Abdelkader Saidane
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[article] in COST > N° 10 [01/01/2012] . - p. 93 | Titre : | Détection des défauts dans les circuits analogique avec la méthode de la densité spectrale de puissance (DPS) | | Type de document : | texte imprimé | | Auteurs : | wadie Bachir Bouiadjra, Auteur ; Abdelkader Saidane, Auteur | | Année de publication : | 2012 | | Article en page(s) : | p. 93 | | Langues : | Français | | Mots-clés : | Test DSP SOC estimation intervalle de confiance défauts | | Résumé : | Dans la vie quotidienne, plusieurs nouveaux domaines sont devenus très importants, tels que les télécommunications, le multimédia, les applications biomédicales, etc. Ces domaines utilisent beaucoup les circuits intégrés analogiques et mixtes, Tester ces derniers a un impact considérable sur le coût de production. En outre, la tendance à intégrer des systèmes analogiques et numériques complets sur une seule puce posent de tres serieux problemes d'acces au test. Nous proposons une
méthode simple basée sur la comparaison des densités spectrales de puissance (DSPs). Cette méthode de test, basée sur la signature de la densité spectrale de puissance du signal de sortie du signal Circuit Sous Test (CST), donne de bons résultats quant à la détection des défauts dans le CST. Elle peut être implanté sur les systèmes SOC (System On Chip) en utilisant un générateur de bruit numérique intégré.
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[article] Détection des défauts dans les circuits analogique avec la méthode de la densité spectrale de puissance (DPS) [texte imprimé] / wadie Bachir Bouiadjra, Auteur ; Abdelkader Saidane, Auteur . - 2012 . - p. 93. Langues : Français in COST > N° 10 [01/01/2012] . - p. 93 | Mots-clés : | Test DSP SOC estimation intervalle de confiance défauts | | Résumé : | Dans la vie quotidienne, plusieurs nouveaux domaines sont devenus très importants, tels que les télécommunications, le multimédia, les applications biomédicales, etc. Ces domaines utilisent beaucoup les circuits intégrés analogiques et mixtes, Tester ces derniers a un impact considérable sur le coût de production. En outre, la tendance à intégrer des systèmes analogiques et numériques complets sur une seule puce posent de tres serieux problemes d'acces au test. Nous proposons une
méthode simple basée sur la comparaison des densités spectrales de puissance (DSPs). Cette méthode de test, basée sur la signature de la densité spectrale de puissance du signal de sortie du signal Circuit Sous Test (CST), donne de bons résultats quant à la détection des défauts dans le CST. Elle peut être implanté sur les systèmes SOC (System On Chip) en utilisant un générateur de bruit numérique intégré.
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