Catalogue des ouvrages Université de Laghouat
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Titre : | Caractérisation microstructurale des matériaux : Analyse par les rayonnements X et électronique | Type de document : | texte imprimé | Auteurs : | Claude Esnouf, Auteur | Editeur : | Lausanne [Suisse] : Presses polytechniques et universitaires romandes | Année de publication : | 2011 | Collection : | METIS LyonTech | Importance : | 1 vol. (XVI-579 p.) | Présentation : | ill., couv. ill. | Format : | 24 cm. | ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-88074-884-5 | Langues : | Français | Catégories : | MECANIQUE:670 fabrication industrielle
| Mots-clés : | Microstructure(physique) Rayons X Cristallographie | Résumé : | Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques.
Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural. Illustré de nombreux exemples et d'exercices résolus, ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle d'écoles d'ingénieur, de Master, ainsi que pour les praticiens désireux d'approfondir leurs connaissances dans le domaine. |
Caractérisation microstructurale des matériaux : Analyse par les rayonnements X et électronique [texte imprimé] / Claude Esnouf, Auteur . - Lausanne (Suisse) : Presses polytechniques et universitaires romandes, 2011 . - 1 vol. (XVI-579 p.) : ill., couv. ill. ; 24 cm.. - ( METIS LyonTech) . ISBN : 978-2-88074-884-5 Langues : Français Catégories : | MECANIQUE:670 fabrication industrielle
| Mots-clés : | Microstructure(physique) Rayons X Cristallographie | Résumé : | Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques.
Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural. Illustré de nombreux exemples et d'exercices résolus, ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle d'écoles d'ingénieur, de Master, ainsi que pour les praticiens désireux d'approfondir leurs connaissances dans le domaine. |
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670.103-1 | 670.103-1 | Livre interne | BIBLIOTHEQUE CENTRALE | Génie Mécanique (bc) | Disponible |
620.1-98-1 | 620.1-98-1 | Livre externe | BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DE TECHNOLOGIE | Genie mécanique (TEC) | Disponible |
620.1-98-2 | 620.1-98-2 | Livre externe | BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DE TECHNOLOGIE | Genie mécanique (TEC) | Disponible |
620.1-98-3 | 620.1-98-3 | Livre externe | BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DE TECHNOLOGIE | Genie mécanique (TEC) | Disponible |
620.1-98-4 | 620.1-98-4 | Livre externe | BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DE TECHNOLOGIE | Genie mécanique (TEC) | Disponible |
530.7-33-1 | 530.7-33-1 | Livre externe | BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DES SCIENCES | Physique (SCI) | Disponible |

Titre : | Cristallographie et diffraction : application à la diffraction électronique, cours et exercices corrigés | Type de document : | texte imprimé | Auteurs : | Claude Esnouf, Auteur | Editeur : | Paris [France] : Ellipses | Année de publication : | 2018 | Collection : | Technosup | Sous-collection : | Physique | Importance : | 1 vol. (XI-220 p.) | Présentation : | ill. | Format : | 26 cm. | ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-340-02338-3 | Langues : | Français | Mots-clés : | Cristallographie Électrons Diffraction | Résumé : | Consacré à la diffraction par les cristaux, l'ouvrage développe en application une présentation théorique et technologique des techniques basées sur la seule diffraction des électrons. Destiné d'abord aux seconds cycles des Universités et aux Ecoles d'ingénieurs, il ne fait appel qu'aux notions de physique exposées en classes préparatoires. Il permet néanmoins une lecture à deux niveaux : un niveau découverte et un niveau approfondissement (sans toutefois aller jusqu'à présenter des développements très en pointe), pour des lecteurs désireux de compléter leur formation initiale ou de revisiter des méthodes plus actuelles.
L'ouvrage comporte cinq chapitres : Le premier chapitre est un rappel des notions de cristallographie, avec pour objectif pragmatique d'accéder à la lecture des Tables Internationales de Cristallographie, qui regroupent toutes les notions utiles à l'analyse des clichés de diffraction. Le deuxième chapitre développe les phénomènes spécifiques de diffraction due au rayonnement électronique. Le troisième présente les instruments utilisés, leurs caractéristiques et leur environnement technologique.
Les deux derniers chapitres exposent les différentes méthodes de diffraction en transmission (chap. 4) et en réflexion (chap. 5). Une série d'exercices et leurs solutions concluent l'ouvrage. |
Cristallographie et diffraction : application à la diffraction électronique, cours et exercices corrigés [texte imprimé] / Claude Esnouf, Auteur . - Paris (France) : Ellipses, 2018 . - 1 vol. (XI-220 p.) : ill. ; 26 cm.. - ( Technosup. Physique) . ISBN : 978-2-340-02338-3 Langues : Français Mots-clés : | Cristallographie Électrons Diffraction | Résumé : | Consacré à la diffraction par les cristaux, l'ouvrage développe en application une présentation théorique et technologique des techniques basées sur la seule diffraction des électrons. Destiné d'abord aux seconds cycles des Universités et aux Ecoles d'ingénieurs, il ne fait appel qu'aux notions de physique exposées en classes préparatoires. Il permet néanmoins une lecture à deux niveaux : un niveau découverte et un niveau approfondissement (sans toutefois aller jusqu'à présenter des développements très en pointe), pour des lecteurs désireux de compléter leur formation initiale ou de revisiter des méthodes plus actuelles.
L'ouvrage comporte cinq chapitres : Le premier chapitre est un rappel des notions de cristallographie, avec pour objectif pragmatique d'accéder à la lecture des Tables Internationales de Cristallographie, qui regroupent toutes les notions utiles à l'analyse des clichés de diffraction. Le deuxième chapitre développe les phénomènes spécifiques de diffraction due au rayonnement électronique. Le troisième présente les instruments utilisés, leurs caractéristiques et leur environnement technologique.
Les deux derniers chapitres exposent les différentes méthodes de diffraction en transmission (chap. 4) et en réflexion (chap. 5). Une série d'exercices et leurs solutions concluent l'ouvrage. |
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548.8-13-1 | 548.8-13-1 | Livre interne | BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DES SCIENCES | Chimie (SCI) | Disponible |
548.8-13-2 | 548.8-13-2 | Livre externe | BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DES SCIENCES | Chimie (SCI) | Disponible |
548.8-13-3 | 548.8-13-3 | Livre externe | BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DES SCIENCES | Chimie (SCI) | Disponible |

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671-13-1 | 671-13-1 | Livre externe | BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DE TECHNOLOGIE | Genie mécanique (TEC) | Disponible |
671-13-2 | 671-13-2 | Livre externe | BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DE TECHNOLOGIE | Genie mécanique (TEC) | Disponible |
671-13-3 | 671-13-3 | Livre externe | BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DE TECHNOLOGIE | Genie mécanique (TEC) | Disponible |