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10 résultat(s) recherche sur le mot-clé 'Diffraction'
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Titre : Diffraction des rayonnements : introduction aux concepts et méthodes Type de document : texte imprimé Auteurs : Jean Protas, Auteur Editeur : Paris [France] : Dunod Année de publication : 1999 Collection : Sciences Sup Importance : 308 p Présentation : ill., couv. ill. en coul Format : 26 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-10-004144-2 Note générale : La couv. porte en plus : "2e cycle, DEA, écoles d'ingénieurs". Langues : Français Catégories : PHYSIQUE:531 Mécanique du solide et du point Mots-clés : Diffraction Résumé : Cet ouvrage s'adresse aux étudiants de deuxième et troisième cycles de physique du solide, chimie du solide et sciences des matériaux, aux élèves des écoles d'ingénieurs, ainsi qu'aux chercheurs de ces disciplines. Dans le vaste domaine de la cristallographie, la diffraction des rayonnements par les cristaux occupe une place importante. Cet ouvrage rassemble les bases et les acquis des dernières décennies qui ont contribué à son spectaculaire développement dans la résolution des structures cristallines, l'analyse fine des propriétés physico-chimiques des matériaux cristallins à l'échelle atomique et la conquête du monde de la biologie. A mi-chemin entre théorie et applications, il privilégie la compréhension des phénomènes liés aux applications de la diffraction par les cristaux de manière à en exposer les bases aussi simplement que possible. De nombreuses démonstrations accompagnent l'exposé des concepts fondamentaux. Diffraction des rayonnements : introduction aux concepts et méthodes [texte imprimé] / Jean Protas, Auteur . - Paris (France) : Dunod, 1999 . - 308 p : ill., couv. ill. en coul ; 26 cm. - (Sciences Sup) .
ISBN : 978-2-10-004144-2
La couv. porte en plus : "2e cycle, DEA, écoles d'ingénieurs".
Langues : Français
Catégories : PHYSIQUE:531 Mécanique du solide et du point Mots-clés : Diffraction Résumé : Cet ouvrage s'adresse aux étudiants de deuxième et troisième cycles de physique du solide, chimie du solide et sciences des matériaux, aux élèves des écoles d'ingénieurs, ainsi qu'aux chercheurs de ces disciplines. Dans le vaste domaine de la cristallographie, la diffraction des rayonnements par les cristaux occupe une place importante. Cet ouvrage rassemble les bases et les acquis des dernières décennies qui ont contribué à son spectaculaire développement dans la résolution des structures cristallines, l'analyse fine des propriétés physico-chimiques des matériaux cristallins à l'échelle atomique et la conquête du monde de la biologie. A mi-chemin entre théorie et applications, il privilégie la compréhension des phénomènes liés aux applications de la diffraction par les cristaux de manière à en exposer les bases aussi simplement que possible. De nombreuses démonstrations accompagnent l'exposé des concepts fondamentaux. Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité PH 07.32-1 PH 07.32-1 Livre interne BIBLIOTHEQUE CENTRALE Physique (bc) Disponible 535.4-2-3 535.4-2-3 Livre externe BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DE TECHNOLOGIE Physique (TEC) Disponible 535.4-2-1 535.4-2-1 Livre externe BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DES SCIENCES Physique (SCI) Disponible 535.4-2-2 535.4-2-2 Livre externe BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DES SCIENCES Physique (SCI) Disponible Analyse par diffraction des rayons X de la microstructure d’un acier HSLA / Zakaria Bouagal
Titre : Analyse par diffraction des rayons X de la microstructure d’un acier HSLA Type de document : document multimédia Auteurs : Zakaria Bouagal, Auteur ; Mustapha Noureddine, Directeur de thèse Editeur : Laghouat : Université Amar Telidji - Département de génie mécanique Année de publication : 2021 Importance : 67 p. Format : 27 cm. Accompagnement : 1 disque optique numérique (CD-ROM) Note générale : Option : Génie des matériaux Langues : Français Mots-clés : Diffraction Rayons X Microstructure acier HSLA note de thèses : Mémoire de master en génie mécanique Analyse par diffraction des rayons X de la microstructure d’un acier HSLA [document multimédia] / Zakaria Bouagal, Auteur ; Mustapha Noureddine, Directeur de thèse . - Laghouat : Université Amar Telidji - Département de génie mécanique, 2021 . - 67 p. ; 27 cm. + 1 disque optique numérique (CD-ROM).
Option : Génie des matériaux
Langues : Français
Mots-clés : Diffraction Rayons X Microstructure acier HSLA note de thèses : Mémoire de master en génie mécanique Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité CD 155 CD 155 CD BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DES SCIENCES théses (sci) Disponible
Titre : Cristallographie et diffraction : application à la diffraction électronique, cours et exercices corrigés Type de document : texte imprimé Auteurs : Claude Esnouf, Auteur Editeur : Paris [France] : Ellipses Année de publication : 2018 Collection : Technosup Sous-collection : Physique Importance : 1 vol. (XI-220 p.) Présentation : ill. Format : 26 cm. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-340-02338-3 Langues : Français Mots-clés : Cristallographie Électrons Diffraction Résumé : Consacré à la diffraction par les cristaux, l'ouvrage développe en application une présentation théorique et technologique des techniques basées sur la seule diffraction des électrons. Destiné d'abord aux seconds cycles des Universités et aux Ecoles d'ingénieurs, il ne fait appel qu'aux notions de physique exposées en classes préparatoires. Il permet néanmoins une lecture à deux niveaux : un niveau découverte et un niveau approfondissement (sans toutefois aller jusqu'à présenter des développements très en pointe), pour des lecteurs désireux de compléter leur formation initiale ou de revisiter des méthodes plus actuelles.
L'ouvrage comporte cinq chapitres : Le premier chapitre est un rappel des notions de cristallographie, avec pour objectif pragmatique d'accéder à la lecture des Tables Internationales de Cristallographie, qui regroupent toutes les notions utiles à l'analyse des clichés de diffraction. Le deuxième chapitre développe les phénomènes spécifiques de diffraction due au rayonnement électronique. Le troisième présente les instruments utilisés, leurs caractéristiques et leur environnement technologique.
Les deux derniers chapitres exposent les différentes méthodes de diffraction en transmission (chap. 4) et en réflexion (chap. 5). Une série d'exercices et leurs solutions concluent l'ouvrage.Cristallographie et diffraction : application à la diffraction électronique, cours et exercices corrigés [texte imprimé] / Claude Esnouf, Auteur . - Paris (France) : Ellipses, 2018 . - 1 vol. (XI-220 p.) : ill. ; 26 cm.. - (Technosup. Physique) .
ISBN : 978-2-340-02338-3
Langues : Français
Mots-clés : Cristallographie Électrons Diffraction Résumé : Consacré à la diffraction par les cristaux, l'ouvrage développe en application une présentation théorique et technologique des techniques basées sur la seule diffraction des électrons. Destiné d'abord aux seconds cycles des Universités et aux Ecoles d'ingénieurs, il ne fait appel qu'aux notions de physique exposées en classes préparatoires. Il permet néanmoins une lecture à deux niveaux : un niveau découverte et un niveau approfondissement (sans toutefois aller jusqu'à présenter des développements très en pointe), pour des lecteurs désireux de compléter leur formation initiale ou de revisiter des méthodes plus actuelles.
L'ouvrage comporte cinq chapitres : Le premier chapitre est un rappel des notions de cristallographie, avec pour objectif pragmatique d'accéder à la lecture des Tables Internationales de Cristallographie, qui regroupent toutes les notions utiles à l'analyse des clichés de diffraction. Le deuxième chapitre développe les phénomènes spécifiques de diffraction due au rayonnement électronique. Le troisième présente les instruments utilisés, leurs caractéristiques et leur environnement technologique.
Les deux derniers chapitres exposent les différentes méthodes de diffraction en transmission (chap. 4) et en réflexion (chap. 5). Une série d'exercices et leurs solutions concluent l'ouvrage.Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité 548.8-13-1 548.8-13-1 Livre interne BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DES SCIENCES Chimie (SCI) Disponible 548.8-13-2 548.8-13-2 Livre externe BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DES SCIENCES Chimie (SCI) Disponible 548.8-13-3 548.8-13-3 Livre externe BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DES SCIENCES Chimie (SCI) Disponible Étude structurale et micro-structurale de la phase (Bi, Pb)-2234 par la diffraction des rayons X, microscope électronique à balayage MEB, EDAX et infrarouge IR / Sarah Benyattou
Titre : Étude structurale et micro-structurale de la phase (Bi, Pb)-2234 par la diffraction des rayons X, microscope électronique à balayage MEB, EDAX et infrarouge IR Type de document : texte manuscrit Auteurs : Sarah Benyattou, Auteur ; Ghania Ben Allou, Auteur ; Abdelmalek Saoudel, Directeur de thèse Editeur : Laghouat : Université Amar Telidji - Département de génie des procédés Année de publication : 2016 Importance : 66 p. Format : 30 cm. Accompagnement : 1 disque optique numérique (CD-ROM) Note générale : Option : Analyse et contrôle Langues : Français Mots-clés : Dopage Microstructur Diffraction Rayons X Microscope électronique MEB EDAX Infrarouge IR Résumé : Dans le présent travail, nous avons élaboré et caractérisé des composés supraconducteurs à base de bismuth Bi1.8- xTlxPb0.35Sr2Ca3-zYzCu4OyF3x avec x= 0, 0.1 et z = 0, 0.2, dans le but d'étudier l'effet du dopage par le fluorure de thallium (TlF3) et l’oxyde d’yttrium (Y2O3) sur la formation de la phase et les propriétés structurales et microstructurales. Les échantillons ont été élaborés par la méthode de réaction à l’état solide. Les échantillons ont été caractérisés par diffraction des rayons x (DRX), MEB complété par l’EDAX et infrarouge (IR). L’affinement des paramétrés de maille et l’indexation des raies (h k l) par le Logiciel Jana 2006 est avérée nécessaire pour approfondir l’étudier structurale. Les facteurs d’agréments Rp, Rwp, GOF et la fraction volumique nous a permis de voir l’évolution des trois phases Bi-2212, Bi-2223 et Bi-2234. L’effet du dopage par fluorure de thallium et l’oxyde d’yttrium était très clair sur les résultats obtenus. La fraction volumique de la phase Bi-2234 a augmentée avec le dopage en TlF3 et Y2O3, mais elle n’est pas dominante par rapport à la phase Bi-2223, alors que celle de la phase Bi-2212 a diminuée. Cette dernière est considéré comme phase secondaire nuisible pour les propriétés des phases Bi-2234 et Bi-2223. Les paramètres de maille a et c de la phase Bi-2234 diminuent avec le dopage de TlF3 et Y2O3, alors que le paramètre b reste presque stable. Les microphotographies MEB ont montré que le dopage par le fluorure de thallium a fait augmenter la taille des grains sous forme de plaquette orienté aléatoirement, et il a diminué sa densité apparente par rapport à l’échantillon non dopé. Le deuxième dopage par l’oxyde d’yttrium a amélioré l’homogénéité, la connectivité des grains et diminué leur tailles. L’analyse EDAX atteste de la bonne pureté des échantillons B34, BTF34 et BTFY34. Les spectres IR des différents échantillons ont prouvés l’effet du dopage par TlF3 et Y2O3 aux sites Bi et O. note de thèses : Mémoire de master en génie des procédés Étude structurale et micro-structurale de la phase (Bi, Pb)-2234 par la diffraction des rayons X, microscope électronique à balayage MEB, EDAX et infrarouge IR [texte manuscrit] / Sarah Benyattou, Auteur ; Ghania Ben Allou, Auteur ; Abdelmalek Saoudel, Directeur de thèse . - Laghouat : Université Amar Telidji - Département de génie des procédés, 2016 . - 66 p. ; 30 cm. + 1 disque optique numérique (CD-ROM).
Option : Analyse et contrôle
Langues : Français
Mots-clés : Dopage Microstructur Diffraction Rayons X Microscope électronique MEB EDAX Infrarouge IR Résumé : Dans le présent travail, nous avons élaboré et caractérisé des composés supraconducteurs à base de bismuth Bi1.8- xTlxPb0.35Sr2Ca3-zYzCu4OyF3x avec x= 0, 0.1 et z = 0, 0.2, dans le but d'étudier l'effet du dopage par le fluorure de thallium (TlF3) et l’oxyde d’yttrium (Y2O3) sur la formation de la phase et les propriétés structurales et microstructurales. Les échantillons ont été élaborés par la méthode de réaction à l’état solide. Les échantillons ont été caractérisés par diffraction des rayons x (DRX), MEB complété par l’EDAX et infrarouge (IR). L’affinement des paramétrés de maille et l’indexation des raies (h k l) par le Logiciel Jana 2006 est avérée nécessaire pour approfondir l’étudier structurale. Les facteurs d’agréments Rp, Rwp, GOF et la fraction volumique nous a permis de voir l’évolution des trois phases Bi-2212, Bi-2223 et Bi-2234. L’effet du dopage par fluorure de thallium et l’oxyde d’yttrium était très clair sur les résultats obtenus. La fraction volumique de la phase Bi-2234 a augmentée avec le dopage en TlF3 et Y2O3, mais elle n’est pas dominante par rapport à la phase Bi-2223, alors que celle de la phase Bi-2212 a diminuée. Cette dernière est considéré comme phase secondaire nuisible pour les propriétés des phases Bi-2234 et Bi-2223. Les paramètres de maille a et c de la phase Bi-2234 diminuent avec le dopage de TlF3 et Y2O3, alors que le paramètre b reste presque stable. Les microphotographies MEB ont montré que le dopage par le fluorure de thallium a fait augmenter la taille des grains sous forme de plaquette orienté aléatoirement, et il a diminué sa densité apparente par rapport à l’échantillon non dopé. Le deuxième dopage par l’oxyde d’yttrium a amélioré l’homogénéité, la connectivité des grains et diminué leur tailles. L’analyse EDAX atteste de la bonne pureté des échantillons B34, BTF34 et BTFY34. Les spectres IR des différents échantillons ont prouvés l’effet du dopage par TlF3 et Y2O3 aux sites Bi et O. note de thèses : Mémoire de master en génie des procédés Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité GP 03-10 GP 03-10 Thése BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DE TECHNOLOGIE théses (tec) Disponible
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité GM 03.121-1 GM 03.121-1 Livre interne BIBLIOTHEQUE CENTRALE Génie Mécanique (bc) Disponible GM 03-121 GM 03-121 Livre externe BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DE TECHNOLOGIE Genie mécanique (TEC) Disponible Caractérisation structurale des couches minces de SnO2 élaborées par la technique de spin coating / Soumia Belhamri in COST, N° 18 ([01/01/2017])
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