Catalogue des ouvrages Université de Laghouat
A partir de cette page vous pouvez :
Résultat de la recherche
4 résultat(s) recherche sur le mot-clé 'Rayons X'
Ajouter le résultat dans votre panier Affiner la recherche Générer le flux rss de la recherche Faire une suggestion
| Titre : | Rayons X et matière 4 : RX 2011 | | Type de document : | texte imprimé | | Auteurs : | René Guinebretière, Auteur ; Philippe Goudeau, Auteur | | Editeur : | London : ISTE éditions | | Année de publication : | 2016 | | Collection : | Collection Science des matériaux | | Importance : | 279 p. | | Présentation : | ill. | | Format : | 23 cm. | | ISBN/ISSN/EAN : | 978-1-78405-112-9 | | Langues : | Français | | Mots-clés : | Rayons X Tomographie | | Résumé : | Pédagogiques, les ouvrages Rayons X et Matière proposent une synthèse complète, aussi bien au niveau des instruments, de la méthodologie, des applications ou des travaux dans lesquels l'interaction entre les rayons X et la matière condensée est mise en œuvre. Rayons X et Matière 4 est fortement axé sur l'utilisation du rayonnement synchrotron, outil puissant très largement utilisé par des communautés scientifiques pluridisciplinaires pour l'exploration de la matière dans de nouvelles directions. Cette quatrième édition traite de manière générale ou dans le cadre de mises en œuvre très spécifiques, des sources de rayons X, de la diffraction, de la diffusion, de l'absorption et de la tomographie appliquées à des domaines très variés.
Rédigé par des spécialistes de renom, ce livre est issu des conférences invitées qui ont été présentées lors du colloque « Rayons X et matière - RX2011 ». |
Rayons X et matière 4 : RX 2011 [texte imprimé] / René Guinebretière, Auteur ; Philippe Goudeau, Auteur . - London : ISTE éditions, 2016 . - 279 p. : ill. ; 23 cm.. - ( Collection Science des matériaux) . ISBN : 978-1-78405-112-9 Langues : Français | Mots-clés : | Rayons X Tomographie | | Résumé : | Pédagogiques, les ouvrages Rayons X et Matière proposent une synthèse complète, aussi bien au niveau des instruments, de la méthodologie, des applications ou des travaux dans lesquels l'interaction entre les rayons X et la matière condensée est mise en œuvre. Rayons X et Matière 4 est fortement axé sur l'utilisation du rayonnement synchrotron, outil puissant très largement utilisé par des communautés scientifiques pluridisciplinaires pour l'exploration de la matière dans de nouvelles directions. Cette quatrième édition traite de manière générale ou dans le cadre de mises en œuvre très spécifiques, des sources de rayons X, de la diffraction, de la diffusion, de l'absorption et de la tomographie appliquées à des domaines très variés.
Rédigé par des spécialistes de renom, ce livre est issu des conférences invitées qui ont été présentées lors du colloque « Rayons X et matière - RX2011 ». |
|  |
Réservation
Réserver ce document
Exemplaires
| Disponibilité |
|---|
| 539.7-35-1 | 539.7-35-1 | Livre externe | BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DES SCIENCES | Physique (SCI) | Disponible |
| 539.7-35-2 | 539.7-35-2 | Livre externe | BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DES SCIENCES | Physique (SCI) | Disponible |
| 539.7-35-3 | 539.7-35-3 | Livre externe | BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DES SCIENCES | Physique (SCI) | Disponible |
| Titre : | Rayons X et matière : RX 2006 | | Type de document : | texte imprimé | | Auteurs : | Philippe Goudeau, Directeur de publication, rédacteur en chef ; René Guinebretière, Directeur de publication, rédacteur en chef | | Editeur : | Paris : Hermès Science Publications | | Année de publication : | 2006 | | Importance : | 298 p. | | Présentation : | ill. | | Format : | 24 cm | | ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-7462-1385-2 | | Note générale : | Colloque Rayons X et matière (06 ; 2006 ; Limoges) Tenue du 20 au 23 fév. 2003. | | Langues : | Français | | Catégories : | PHYSIQUE:539 Physique quantique,atomique,nucléaire,rayonnement
| | Mots-clés : | Rayons X Diffraction | | Résumé : | Une introduction à la théorie des champs quantiques. Définit pas à pas les concepts mathématiquement nécessaires au développement de cette théorie, traite d'exemples classiques en détail, expose l'espace de Fock et introduit les champs quantiques des phonons et des photons. Termine par un exposé de la théorie de la diffusion. L'exposé est illustré de problèmes corrigés. |
Rayons X et matière : RX 2006 [texte imprimé] / Philippe Goudeau, Directeur de publication, rédacteur en chef ; René Guinebretière, Directeur de publication, rédacteur en chef . - Paris : Hermès Science Publications, 2006 . - 298 p. : ill. ; 24 cm. ISBN : 978-2-7462-1385-2 Colloque Rayons X et matière (06 ; 2006 ; Limoges) Tenue du 20 au 23 fév. 2003. Langues : Français | Catégories : | PHYSIQUE:539 Physique quantique,atomique,nucléaire,rayonnement
| | Mots-clés : | Rayons X Diffraction | | Résumé : | Une introduction à la théorie des champs quantiques. Définit pas à pas les concepts mathématiquement nécessaires au développement de cette théorie, traite d'exemples classiques en détail, expose l'espace de Fock et introduit les champs quantiques des phonons et des photons. Termine par un exposé de la théorie de la diffusion. L'exposé est illustré de problèmes corrigés. |
| |
Réservation
Réserver ce document
Exemplaires
| Disponibilité |
|---|
| 539.6-1 | 539.6-1 | Livre interne | BIBLIOTHEQUE CENTRALE | Physique (bc) | Disponible |
Réservation
Réserver ce document
Exemplaires
| Disponibilité |
|---|
| GP 03-10 | GP 03-10 | Thése | BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DE TECHNOLOGIE | théses (tec) | Disponible |
| Titre : | Caractérisation microstructurale des matériaux : Analyse par les rayonnements X et électronique | | Type de document : | texte imprimé | | Auteurs : | Claude Esnouf, Auteur | | Editeur : | Lausanne [Suisse] : Presses polytechniques et universitaires romandes | | Année de publication : | 2011 | | Collection : | METIS LyonTech | | Importance : | 1 vol. (XVI-579 p.) | | Présentation : | ill., couv. ill. | | Format : | 24 cm. | | ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-88074-884-5 | | Langues : | Français | | Catégories : | MECANIQUE:670 fabrication industrielle
| | Mots-clés : | Microstructure(physique) Rayons X Cristallographie | | Résumé : | Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques.
Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural. Illustré de nombreux exemples et d'exercices résolus, ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle d'écoles d'ingénieur, de Master, ainsi que pour les praticiens désireux d'approfondir leurs connaissances dans le domaine. |
Caractérisation microstructurale des matériaux : Analyse par les rayonnements X et électronique [texte imprimé] / Claude Esnouf, Auteur . - Lausanne (Suisse) : Presses polytechniques et universitaires romandes, 2011 . - 1 vol. (XVI-579 p.) : ill., couv. ill. ; 24 cm.. - ( METIS LyonTech) . ISBN : 978-2-88074-884-5 Langues : Français | Catégories : | MECANIQUE:670 fabrication industrielle
| | Mots-clés : | Microstructure(physique) Rayons X Cristallographie | | Résumé : | Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques.
Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural. Illustré de nombreux exemples et d'exercices résolus, ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle d'écoles d'ingénieur, de Master, ainsi que pour les praticiens désireux d'approfondir leurs connaissances dans le domaine. |
| |
Réservation
Réserver ce document
Exemplaires
| Disponibilité |
|---|
| 670.103-1 | 670.103-1 | Livre interne | BIBLIOTHEQUE CENTRALE | Génie Mécanique (bc) | Disponible |
| 620.1-98-1 | 620.1-98-1 | Livre externe | BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DE TECHNOLOGIE | Genie mécanique (TEC) | Disponible |
| 620.1-98-2 | 620.1-98-2 | Livre externe | BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DE TECHNOLOGIE | Genie mécanique (TEC) | Disponible |
| 620.1-98-3 | 620.1-98-3 | Livre externe | BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DE TECHNOLOGIE | Genie mécanique (TEC) | Disponible |
| 620.1-98-4 | 620.1-98-4 | Livre externe | BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DE TECHNOLOGIE | Genie mécanique (TEC) | Disponible |
| 620.1-98-5 | 620.1-98-5 | Livre externe | BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DE TECHNOLOGIE | Genie mécanique (TEC) | Disponible |
