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6 résultat(s) recherche sur le mot-clé 'Rayons X'
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Titre : Rayons X et matière 4 : RX 2011 Type de document : texte imprimé Auteurs : René Guinebretière, Auteur ; Philippe Goudeau, Auteur Editeur : London : ISTE éditions Année de publication : 2016 Collection : Collection Science des matériaux Importance : 279 p. Présentation : ill. Format : 23 cm. ISBN/ISSN/EAN : 978-1-78405-112-9 Langues : Français Catégories : PHYSIQUE:539 Physique quantique,atomique,nucléaire,rayonnement Mots-clés : Rayons X Tomographie Résumé : Pédagogiques, les ouvrages Rayons X et Matière proposent une synthèse complète, aussi bien au niveau des instruments, de la méthodologie, des applications ou des travaux dans lesquels l'interaction entre les rayons X et la matière condensée est mise en œuvre. Rayons X et Matière 4 est fortement axé sur l'utilisation du rayonnement synchrotron, outil puissant très largement utilisé par des communautés scientifiques pluridisciplinaires pour l'exploration de la matière dans de nouvelles directions. Cette quatrième édition traite de manière générale ou dans le cadre de mises en œuvre très spécifiques, des sources de rayons X, de la diffraction, de la diffusion, de l'absorption et de la tomographie appliquées à des domaines très variés.
Rédigé par des spécialistes de renom, ce livre est issu des conférences invitées qui ont été présentées lors du colloque « Rayons X et matière - RX2011 ».Rayons X et matière 4 : RX 2011 [texte imprimé] / René Guinebretière, Auteur ; Philippe Goudeau, Auteur . - London : ISTE éditions, 2016 . - 279 p. : ill. ; 23 cm.. - (Collection Science des matériaux) .
ISBN : 978-1-78405-112-9
Langues : Français
Catégories : PHYSIQUE:539 Physique quantique,atomique,nucléaire,rayonnement Mots-clés : Rayons X Tomographie Résumé : Pédagogiques, les ouvrages Rayons X et Matière proposent une synthèse complète, aussi bien au niveau des instruments, de la méthodologie, des applications ou des travaux dans lesquels l'interaction entre les rayons X et la matière condensée est mise en œuvre. Rayons X et Matière 4 est fortement axé sur l'utilisation du rayonnement synchrotron, outil puissant très largement utilisé par des communautés scientifiques pluridisciplinaires pour l'exploration de la matière dans de nouvelles directions. Cette quatrième édition traite de manière générale ou dans le cadre de mises en œuvre très spécifiques, des sources de rayons X, de la diffraction, de la diffusion, de l'absorption et de la tomographie appliquées à des domaines très variés.
Rédigé par des spécialistes de renom, ce livre est issu des conférences invitées qui ont été présentées lors du colloque « Rayons X et matière - RX2011 ».Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité 539.60-1 539.60-1 Livre interne BIBLIOTHEQUE CENTRALE Physique (bc) Disponible 539.60-2 539.60-2 Livre interne BIBLIOTHEQUE CENTRALE Physique (bc) Disponible 539.7-14/1 539.7-14/1 Livre externe BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DE TECHNOLOGIE Physique (TEC) Disponible 539.7-14/2 539.7-14/2 Livre externe BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DE TECHNOLOGIE Physique (TEC) Disponible 539.7-35-1 539.7-35-1 Livre externe BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DES SCIENCES Physique (SCI) Disponible 539.7-35-2 539.7-35-2 Livre externe BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DES SCIENCES Physique (SCI) Disponible 539.7-35-3 539.7-35-3 Livre externe BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DES SCIENCES Physique (SCI) Disponible
Titre : Rayons X et matière : RX 2006 Type de document : texte imprimé Auteurs : Philippe Goudeau, Directeur de publication, rédacteur en chef ; René Guinebretière, Directeur de publication, rédacteur en chef Editeur : Paris : Hermès Science Publications Année de publication : 2006 Importance : 298 p. Présentation : ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7462-1385-2 Note générale : Colloque Rayons X et matière (06 ; 2006 ; Limoges) Tenue du 20 au 23 fév. 2003. Langues : Français Catégories : PHYSIQUE:539 Physique quantique,atomique,nucléaire,rayonnement Mots-clés : Rayons X Diffraction Résumé : Une introduction à la théorie des champs quantiques. Définit pas à pas les concepts mathématiquement nécessaires au développement de cette théorie, traite d'exemples classiques en détail, expose l'espace de Fock et introduit les champs quantiques des phonons et des photons. Termine par un exposé de la théorie de la diffusion. L'exposé est illustré de problèmes corrigés. Rayons X et matière : RX 2006 [texte imprimé] / Philippe Goudeau, Directeur de publication, rédacteur en chef ; René Guinebretière, Directeur de publication, rédacteur en chef . - Paris : Hermès Science Publications, 2006 . - 298 p. : ill. ; 24 cm.
ISBN : 978-2-7462-1385-2
Colloque Rayons X et matière (06 ; 2006 ; Limoges) Tenue du 20 au 23 fév. 2003.
Langues : Français
Catégories : PHYSIQUE:539 Physique quantique,atomique,nucléaire,rayonnement Mots-clés : Rayons X Diffraction Résumé : Une introduction à la théorie des champs quantiques. Définit pas à pas les concepts mathématiquement nécessaires au développement de cette théorie, traite d'exemples classiques en détail, expose l'espace de Fock et introduit les champs quantiques des phonons et des photons. Termine par un exposé de la théorie de la diffusion. L'exposé est illustré de problèmes corrigés. Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité 539.6-1 539.6-1 Livre interne BIBLIOTHEQUE CENTRALE Physique (bc) Disponible Analyse par diffraction des rayons X de la microstructure d’un acier HSLA / Zakaria Bouagal
Titre : Analyse par diffraction des rayons X de la microstructure d’un acier HSLA Type de document : document multimédia Auteurs : Zakaria Bouagal, Auteur ; Mustapha Noureddine, Directeur de thèse Editeur : Laghouat : Université Amar Telidji - Département de génie mécanique Année de publication : 2021 Importance : 67 p. Format : 27 cm. Accompagnement : 1 disque optique numérique (CD-ROM) Note générale : Option : Génie des matériaux Langues : Français Mots-clés : Diffraction Rayons X Microstructure acier HSLA note de thèses : Mémoire de master en génie mécanique Analyse par diffraction des rayons X de la microstructure d’un acier HSLA [document multimédia] / Zakaria Bouagal, Auteur ; Mustapha Noureddine, Directeur de thèse . - Laghouat : Université Amar Telidji - Département de génie mécanique, 2021 . - 67 p. ; 27 cm. + 1 disque optique numérique (CD-ROM).
Option : Génie des matériaux
Langues : Français
Mots-clés : Diffraction Rayons X Microstructure acier HSLA note de thèses : Mémoire de master en génie mécanique Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité CD 155 CD 155 CD BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DES SCIENCES théses (sci) Disponible Étude structurale et micro-structurale de la phase (Bi, Pb)-2234 par la diffraction des rayons X, microscope électronique à balayage MEB, EDAX et infrarouge IR / Sarah Benyattou
Titre : Étude structurale et micro-structurale de la phase (Bi, Pb)-2234 par la diffraction des rayons X, microscope électronique à balayage MEB, EDAX et infrarouge IR Type de document : texte manuscrit Auteurs : Sarah Benyattou, Auteur ; Ghania Ben Allou, Auteur ; Abdelmalek Saoudel, Directeur de thèse Editeur : Laghouat : Université Amar Telidji - Département de génie des procédés Année de publication : 2016 Importance : 66 p. Format : 30 cm. Accompagnement : 1 disque optique numérique (CD-ROM) Note générale : Option : Analyse et contrôle Langues : Français Mots-clés : Dopage Microstructur Diffraction Rayons X Microscope électronique MEB EDAX Infrarouge IR Résumé : Dans le présent travail, nous avons élaboré et caractérisé des composés supraconducteurs à base de bismuth Bi1.8- xTlxPb0.35Sr2Ca3-zYzCu4OyF3x avec x= 0, 0.1 et z = 0, 0.2, dans le but d'étudier l'effet du dopage par le fluorure de thallium (TlF3) et l’oxyde d’yttrium (Y2O3) sur la formation de la phase et les propriétés structurales et microstructurales. Les échantillons ont été élaborés par la méthode de réaction à l’état solide. Les échantillons ont été caractérisés par diffraction des rayons x (DRX), MEB complété par l’EDAX et infrarouge (IR). L’affinement des paramétrés de maille et l’indexation des raies (h k l) par le Logiciel Jana 2006 est avérée nécessaire pour approfondir l’étudier structurale. Les facteurs d’agréments Rp, Rwp, GOF et la fraction volumique nous a permis de voir l’évolution des trois phases Bi-2212, Bi-2223 et Bi-2234. L’effet du dopage par fluorure de thallium et l’oxyde d’yttrium était très clair sur les résultats obtenus. La fraction volumique de la phase Bi-2234 a augmentée avec le dopage en TlF3 et Y2O3, mais elle n’est pas dominante par rapport à la phase Bi-2223, alors que celle de la phase Bi-2212 a diminuée. Cette dernière est considéré comme phase secondaire nuisible pour les propriétés des phases Bi-2234 et Bi-2223. Les paramètres de maille a et c de la phase Bi-2234 diminuent avec le dopage de TlF3 et Y2O3, alors que le paramètre b reste presque stable. Les microphotographies MEB ont montré que le dopage par le fluorure de thallium a fait augmenter la taille des grains sous forme de plaquette orienté aléatoirement, et il a diminué sa densité apparente par rapport à l’échantillon non dopé. Le deuxième dopage par l’oxyde d’yttrium a amélioré l’homogénéité, la connectivité des grains et diminué leur tailles. L’analyse EDAX atteste de la bonne pureté des échantillons B34, BTF34 et BTFY34. Les spectres IR des différents échantillons ont prouvés l’effet du dopage par TlF3 et Y2O3 aux sites Bi et O. note de thèses : Mémoire de master en génie des procédés Étude structurale et micro-structurale de la phase (Bi, Pb)-2234 par la diffraction des rayons X, microscope électronique à balayage MEB, EDAX et infrarouge IR [texte manuscrit] / Sarah Benyattou, Auteur ; Ghania Ben Allou, Auteur ; Abdelmalek Saoudel, Directeur de thèse . - Laghouat : Université Amar Telidji - Département de génie des procédés, 2016 . - 66 p. ; 30 cm. + 1 disque optique numérique (CD-ROM).
Option : Analyse et contrôle
Langues : Français
Mots-clés : Dopage Microstructur Diffraction Rayons X Microscope électronique MEB EDAX Infrarouge IR Résumé : Dans le présent travail, nous avons élaboré et caractérisé des composés supraconducteurs à base de bismuth Bi1.8- xTlxPb0.35Sr2Ca3-zYzCu4OyF3x avec x= 0, 0.1 et z = 0, 0.2, dans le but d'étudier l'effet du dopage par le fluorure de thallium (TlF3) et l’oxyde d’yttrium (Y2O3) sur la formation de la phase et les propriétés structurales et microstructurales. Les échantillons ont été élaborés par la méthode de réaction à l’état solide. Les échantillons ont été caractérisés par diffraction des rayons x (DRX), MEB complété par l’EDAX et infrarouge (IR). L’affinement des paramétrés de maille et l’indexation des raies (h k l) par le Logiciel Jana 2006 est avérée nécessaire pour approfondir l’étudier structurale. Les facteurs d’agréments Rp, Rwp, GOF et la fraction volumique nous a permis de voir l’évolution des trois phases Bi-2212, Bi-2223 et Bi-2234. L’effet du dopage par fluorure de thallium et l’oxyde d’yttrium était très clair sur les résultats obtenus. La fraction volumique de la phase Bi-2234 a augmentée avec le dopage en TlF3 et Y2O3, mais elle n’est pas dominante par rapport à la phase Bi-2223, alors que celle de la phase Bi-2212 a diminuée. Cette dernière est considéré comme phase secondaire nuisible pour les propriétés des phases Bi-2234 et Bi-2223. Les paramètres de maille a et c de la phase Bi-2234 diminuent avec le dopage de TlF3 et Y2O3, alors que le paramètre b reste presque stable. Les microphotographies MEB ont montré que le dopage par le fluorure de thallium a fait augmenter la taille des grains sous forme de plaquette orienté aléatoirement, et il a diminué sa densité apparente par rapport à l’échantillon non dopé. Le deuxième dopage par l’oxyde d’yttrium a amélioré l’homogénéité, la connectivité des grains et diminué leur tailles. L’analyse EDAX atteste de la bonne pureté des échantillons B34, BTF34 et BTFY34. Les spectres IR des différents échantillons ont prouvés l’effet du dopage par TlF3 et Y2O3 aux sites Bi et O. note de thèses : Mémoire de master en génie des procédés Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité GP 03-10 GP 03-10 Thése BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DE TECHNOLOGIE théses (tec) Disponible
Titre : Caractérisation microstructurale des matériaux : Analyse par les rayonnements X et électronique Type de document : texte imprimé Auteurs : Claude Esnouf, Auteur Editeur : Lausanne [Suisse] : Presses polytechniques et universitaires romandes Année de publication : 2011 Collection : METIS LyonTech Importance : 1 vol. (XVI-579 p.) Présentation : ill., couv. ill. Format : 24 cm. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-88074-884-5 Langues : Français Catégories : MECANIQUE:670 fabrication industrielle Mots-clés : Microstructure(physique) Rayons X Cristallographie Résumé : Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques.
Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural. Illustré de nombreux exemples et d'exercices résolus, ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle d'écoles d'ingénieur, de Master, ainsi que pour les praticiens désireux d'approfondir leurs connaissances dans le domaine.Caractérisation microstructurale des matériaux : Analyse par les rayonnements X et électronique [texte imprimé] / Claude Esnouf, Auteur . - Lausanne (Suisse) : Presses polytechniques et universitaires romandes, 2011 . - 1 vol. (XVI-579 p.) : ill., couv. ill. ; 24 cm.. - (METIS LyonTech) .
ISBN : 978-2-88074-884-5
Langues : Français
Catégories : MECANIQUE:670 fabrication industrielle Mots-clés : Microstructure(physique) Rayons X Cristallographie Résumé : Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques.
Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural. Illustré de nombreux exemples et d'exercices résolus, ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle d'écoles d'ingénieur, de Master, ainsi que pour les praticiens désireux d'approfondir leurs connaissances dans le domaine.Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité 670.103-1 670.103-1 Livre interne BIBLIOTHEQUE CENTRALE Génie Mécanique (bc) Disponible 620.1-98-1 620.1-98-1 Livre externe BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DE TECHNOLOGIE Genie mécanique (TEC) Disponible 620.1-98-2 620.1-98-2 Livre externe BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DE TECHNOLOGIE Genie mécanique (TEC) Disponible 620.1-98-3 620.1-98-3 Livre externe BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DE TECHNOLOGIE Genie mécanique (TEC) Disponible 620.1-98-4 620.1-98-4 Livre externe BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DE TECHNOLOGIE Genie mécanique (TEC) Disponible 530.7-33-1 530.7-33-1 Livre externe BIBLIOTHEQUE DE FACULTE DES SCIENCES Physique (SCI) Disponible Caractérisation structurale des couches minces de SnO2 élaborées par la technique de spin coating / Soumia Belhamri in COST, N° 18 ([01/01/2017])
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